鏡片反射比測量裝置（進階版）

簡要描述：ST-20R 鏡片反射比測量裝置（進階版）是一臺專業(yè)用于測試鍍有減反膜鏡片的精密光學儀器，采用雙光束光路系統(tǒng)，測量更加準確穩(wěn)定。可*國標GB10810.4等相關標準中關于對減反膜鏡片光譜反射比、光反射比、平均反射比、膜層均勻性等相關參數(shù)的測量要求。

產品型號：ST-20R
廠商性質：代理商
更新時間：2020-07-29
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詳細介紹

ST-20R 鏡片反射比測量裝置采用中文人機對話的操作方式，簡便易學。大屏幕液晶顯示屏上的菜單對每一個對應的操作步驟進行選擇和認可，即能完成你所需的功能。該儀器燈源的更換一改過去國產儀器繁瑣的方法，整個燈源的更換操作，用戶只需旋動幾個螺絲即可完成，無需進行繁瑣的對光調整即能保證燈源處于原來的合適位置。

ST-20R 儀器的軟件程序設計具有自動保護功能，確保儀器在萬一操作失誤時仍能及時恢復正常工作。由于儀器內藏式微處理機系統(tǒng)的強大作用，加上優(yōu)良的光學、電路系統(tǒng)和合理的機械結構，并采用大屏幕液晶顯示，將為各行業(yè)實驗室的分析測試工作提供十分有效而直觀的手段。

產品特點

1. 鏡片反射比測量裝置具有良好的結構設計和精密的雙光束光學系統(tǒng)，儀器準確度、重現(xiàn)性、雜光指標良好，測量簡單快速，質量穩(wěn)定可靠，電源電壓范圍寬。

2. 鏡片反射比測量裝置的關鍵部件均選用進口器件，濱松無臭氧環(huán)保型氘燈，德國歐士朗鎢燈，美國派來茲檢測器。保證了儀器性能的高可靠性。

3. 鏡片反射比測量裝置具有開放式的樣品室設計，通過樣品架可非常方便地測試鏡片的反射率。

主要技術指標

波長范圍：	190nm～1100nm
波長大允許誤差：	±0.3nm
波長重復性：	≤0.2nm
透射比測量范圍：	0～999%
吸光度測量范圍：	-4.000～4.000A
透射比大允許誤差：	±0.3% ±0.002Abs（0.5Abs處）、 ±0.004Abs（1.0Abs處）、 ±0.006Abs（2.0Abs處）
透射比重復性：	≤0.15% ±0.001Abs（0.5Abs）、±0.002Abs（1.0Abs）
漂移：	≤0.0004A/h（開機1小時后，500nm處）
基線平直性：	±0.001A
雜散光：	≤0.05% （220nm NaI溶液，360nm NaNO2）
噪聲：	100%線噪聲≤0.2%；0% 線噪聲≤0.1%
掃描速度：	波長移動：約3000nm/min，波長掃描：24nm/min-1400nm/min
小光譜帶寬：	3.0nm